高溫老化篩選也稱高溫老（lǎo）化箱或燒機，就是苛刻地考驗它或“努力去（qù）燒掉它”的意思（sī），也是一種極端的破壞性測試，隻有那些被極力折磨過而幸存下來的產品才是過硬產品（pǐn），信（xìn）譽企業隻會將（jiāng）這些賣給用戶。高溫老（lǎo）化是（shì）很有效的一種篩選方法，是電子產品（pǐn）必須（xū）進行的篩選手段之一。
高溫老化通（tōng）常是將電子產品置於高（gāo）溫條件下，其中做高溫老（lǎo）化（huà）篩選的設備有高溫老化房、老化箱（xiāng）等，施加相應（yīng）的電壓、負載，以獲得足夠大的篩（shāi）選應力（lì），達到剔除早期失效產品的目的。所施加的（de）電應力，包括輸入的（de）交流高壓、功率老化、電壓衝擊。使（shǐ）電子產（chǎn）品內部（bù）的元器件在老化過程中能經受工作狀態下的zui大功耗和應力。超（chāo）功率老化顯然縮短老化時間，但也有可能使器（qì）件瞬時（shí）負載超過zui大額定（dìng）值，使合格器件遭受損傷，甚至發生即時（shí）劣化或擊穿。有的電子產品產品可能暫時（shí）還能工作，但（dàn）壽命卻縮短了（le）。所以，對於超功率老化來說，並（bìng）不是超得越多越有效果，而是應（yīng）該選擇一個適當的超負荷量。現在比較一致的方法是對電源施加zui大額定功率，適當延長老化時間，是比較合理的電功率（lǜ）老（lǎo）化篩選方法。

可靠性篩選試驗設計的目的是要確定試驗條件，包括試驗的項目、試驗應力和試驗時間。由於不同類型的電源產品，不同的生產廠家或使用不同的材料、結構、工藝流程所生產的電子（zǐ）產品其失效機理是不同（tóng）的，並且早期失效期與偶然（rán）失效期的分界點也不（bú）可能一（yī）樣，很難製訂一個適應各種電（diàn）子產（chǎn）品的統一的可靠性篩（shāi）選試驗條件。因（yīn）此，必須針對產品的特點進行（háng）大量的可靠性試驗或可靠性篩選摸底試驗，掌握產品的（de）失效（xiào）分布以及失效機理與篩選試驗項目、應力和時間的關係，而後（hòu）才能正確地擬定（dìng）出該（gāi）產品的可靠性（xìng）篩選試驗條件。

顯然，如果可靠（kào）性老化篩選試驗（yàn）條件不妥當，則可能會使一些電源產品因（yīn）篩選試驗強度不夠而造成（chéng）可靠（kào）性和穩定性不能滿足要求，或者因為漏掉必要的篩選試驗（yàn）項目而使這部分早（zǎo）期失（shī）效品未能篩選出來。另外，也可能因篩選試驗（yàn）條件過嚴而（ér）把本來是好的電子產品剔除掉一部分。