有許多因素會影響老化（huà）房老化測試（shì）係統的整體性能，下麵是一（yī）些主要方麵（miàn）：
1．老化房（fáng）計算機主（zhǔ）機與測試係統之（zhī）間的通信。由於功能測試程序非常長，因此測試硬件的設計（jì）應盡可能提高（gāo）速度。一些係統使用較慢的串行通信（xìn），如RS-232C或（huò）者（zhě）類似協議，而另（lìng）一些係統則（zé）使用雙向並行總線係統，大大提（tí）高了數據流通率。
2．根據時間（jiān）動態改（gǎi）變測試參數（shù）的能力，如電壓（yā）與頻率。如果老化測試（shì）係統能夠即時改變參數，則可以加快通常屬於（yú）產品壽命（mìng）後期（qī）階段故障的出現。對於某些器件結構，直流電壓偏置及動態信號的功率變動都可加速出現（xiàn）晚期壽命故障。
3．係（xì）統提供參數測試的能力。如果老（lǎo）化測試係（xì）統能進（jìn）行一些速度測試（shì），那麽還（hái）可得到其他一些相關（guān）失效數據以進行可靠性研（yán）究，這也有助於（yú）精簡老（lǎo）化後測試工藝。
4．對高速測試儀（yí）程序的下載及轉換能（néng）力。有些老（lǎo）化（huà）測試係統有自己的測試語（yǔ）言（yán），對需要做100%節點切換的被測器件不用再開發程序（xù）；而有些係統（tǒng）能夠（gòu）把高速測試儀程序直接轉（zhuǎn）換到老化（huà）應用上，可以在老化過程中進（jìn）行更準確的測試。
5．計算機接（jiē）口與數據采集方式。有些老化測（cè）試係（xì）統采用分區方（fāng）法（fǎ），一（yī）個數據采集主（zhǔ）機控製多個老化板，另外有些係統則是（shì）單板式采集。從實際情況來看，單板式方法（fǎ）可以（yǐ）采集到更多數據，而且可能還具有更大的測試產量。
6．首先是老化房測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化工藝上花費的時間最少，這樣可以提高（gāo）總體產量。惡劣的電性能條件有助於（yú）故障加速出現（xiàn），因此能快（kuài）速（sù）進行（háng）反複（fù）測試的係統可減少總（zǒng）體（tǐ）老化時間。每單位時間裏內部節點切換次數越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現得更快。
7．老化房（fáng）老化板互（hù）連性、PCB設計以及偏置電路的複雜（zá）性。老化測試係統可能被有些人稱為（wéi）高（gāo）速測試，但是（shì），如果機械連接或老化板本身（shēn）特性會削弱信號質量，那麽測試速度將會是一個問題。如像過多機電性連接會（huì）增大整個係統的總電容和電感、老化板設計（jì）不良會產生噪聲和串（chuàn）擾、而（ér）很差的（de）引腳驅動器設計（jì）則（zé）會使快速信號（hào）沿所需的驅動電流大小受到（dào）限製等等，這些都僅是一部分影響速度的瓶頸，另（lìng）外由（yóu）於負載（zǎi）過大並存在阻抗、電路偏（piān）置以（yǐ）及保護元件值的選擇（zé）等也會使（shǐ）老化的性能受到影響。